FEI F200X 扫描/透射电子显微镜（S/TEM）

赛默飞世尔科技的 Talos™ F200X 扫描/透射电子显微 镜（S/TEM）提供最快速，最精确的纳米材料多维定 量表征。由于配备了多种创新功能以提高效率、精度 和使用便易度，Talos™ F200X 是学术、政府和工业 等 领域进行高级研究与分析的理想选择。

高分辨图像数据质量更好

赛默飞世尔科技的 Talos™ F200X S/TEM 融合了卓越的高分辨 率 STEM 和 TEM 成像,行业领先的 X 射线能量色散谱 （EDS） 信号检测，以及通过成分面扫实现三维化学表征等功能。利用 智能扫描引擎、基于多个STEM 探测器的四通道合并技术，以 及微分相位衬度（DPC）成像技术，赛默飞世尔科技 Velox™ S/ TEM 控制软件显著地改善 S/TEM 成像质量，可以更好地分析 电磁结构，并实行快速、准确的 EDS 数据处理及定量分析。 赛默飞世尔科技的高亮度 X 场发射电子枪可以在提供高达标准 肖特基场发射电子枪五倍束流的同时保持较小的会聚角。用户 可以获得高信噪比及卓越的STEM、EDS 图像分辨率和更多高 分辨 TEM应用。此外，X 场发射电子枪所具有的高稳定性及使 用寿命长等特点使其具有更高的成像效率。 显示范围更广、获取图像速度更快Talos™ 快速 D/TEM 成像支持 高分辨率以及原位动态成像。赛默飞世尔科技的 Ceta 16M™ 相 机的视场范围更大，图像采集速率可高达每秒 25 帧。同时压电 样品台可以确保高灵敏度，无漂移成像及精确样品导航。因此 Talos™ 在节约用户时间的同时可以采集更多样品数据。

加快纳米尺度范围内分析解决问题的速度

Talos™ F200X 采用赛默飞世尔科技专利保护的Super-X™ 集 成 EDS 系统，它配备了4 个硅漂移 X 射线探测器 (SDD)，具有 极高灵敏度，每秒可收集高达 105 幅能谱。通过 Super-X™ 与 A-TWIN 物镜集成，Talos™ F200X 最大限度地提高了 X 射线收 集效率，同时达到给定束流下（即使对低强度 EDS 信号）的理 想输出计数率。

产品优势

提供更优质的图像： 同时进行多重信号探测的高效率 STEM 成像技术为高质量的图像提供了更好的图像对比度 

快速获取化学成分数据：快速，精确定量 的 EDS 分析技术以 揭 示纳米级成分细节 

更多应用空间：利用专用的各种原位样品杆进行原位动态实验

让研究更轻松 

Talos™ 采用用户友好的数字界面和领先的人体工学设计，允许 多名科学家访问图像和分析工作流程。快速图像采集与简单易 用的操作平台相结合，即使是经验不丰富的操作员也可以快速 收集结果。使用全程遥控操作，可以提高使用的便利度并增强 环境稳定性。为了保持生产率，Talos™ 还配备了新的状况监视 器， 以便收集重要的仪器参数，便于远程诊断和支持。

特征 

• 领域领先的光学性能：恒定功率 A-TWIN 物镜

• 最佳的易用性：快速、简单的操作切换，可用于多用户环境 

• 超稳定平台：恒定功率物镜、压电样品台、可靠的系统外壳和 遥控操作确保最高的稳定性 

• SmartCam 相机：数字搜索和查看相机可以提高所有应用 的处理能力，并可以在日光下操作

• 完全集成的快速探测器：Ceta 16M 像素 CMOS 相机可提 供较大的视场和很高的读取速度 (25 fps @ 512×512) 

• 全程遥控操作：自动光阑系统与 Ceta 相机相结合，支持 全程遥控操作 

• 提高分析能力：Talos™ 利用 EDS 三维成像技术将化学成分分析能力从二维扩展到三维