公司资讯-半导体材料分析-高精度检测设备-激光刻蚀

TEM通过电子束穿透经过特殊制备的薄样品层，利用透镜系统对穿透后的电子束进行聚焦成像。SEM则通过聚焦电子束扫描样品表面，通过探测从样品表面散射的次级电子来构建图像。

2024-09-13387

进口深硅刻蚀是一种在半导体制造中常用的技术，用于制造微米甚至纳米级别的集成电路和MEMS（微电子机械系统）等产品。该技术通过物理或化学反应，将硅基底材料进行微观加工···

2024-03-04560

北京时间2023年9月23日，北京瑞科中仪科技有限公司受邀参与第二届纳米光电材料与半导体器件发展论坛，作为受邀企业，我们向各位青年科学家、业界教授以及新各材料设备供应商···

2023-09-26760

北京瑞科中仪科技有限公司作为半导体材料领域中专业设备供应商可以为专业人员提供各种理想的科研理想解决方案。公司主营产品：大面积电子束曝光系统、化学气相沉积、物理气···

2023-09-12663

蔡司电镜,共聚焦显微镜,清洁度检测设备,高精度显微镜,电子显微镜,扫描显微镜

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